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技術文章

燒機試驗機(LED老化試驗設備)CK/BIO/BIR

燒機試驗機(LED老化試驗設備)CK/BIO/BIR-Type
用于LED老化(溫度應力)試驗...

環(huán)境應力篩選試驗

篩選試驗是一種對產品進行全數(shù)檢驗的非破壞性試驗。其目的是為選擇具有一定特性的產品或剔早期失效的產品，以提高產品的使用可靠性。產品在制造過程中，由于材料的缺陷，或由于工藝失控，使部分產品出現(xiàn)所謂早期缺陷或故障，這些缺陷或故障若能及早剔除，就可以保證在實際使用時產品的可靠性水平。
篩選試驗可以在元件、器件、連接器等產品或整機系統(tǒng)中進行，根據(jù)要求不同可以有不同的應力篩選試驗，環(huán)境應力篩選的主要試驗為：

電應力篩選：加電工作試驗、加電加負荷試驗
溫度應力篩選：高溫、低溫、高溫工作或低溫工作
環(huán)境應力篩選：溫度變化
機械應力篩選：沖擊或振動
其他篩選：參數(shù)篩選、一致性篩選
篩選試驗也可分為普通篩選
參照標準：
MIL-STD-2164-85
GJB1032－90  “電子產品環(huán)境應力篩選方法”
GJB451-90
MIL-STD-721C-81
MIL-STD-785B-80
可靠性篩選試驗的特點是：
A．這種試驗不是抽樣的，而是100%試驗.
B．該試驗可以提高合格品的總的可靠性水平.但不能提高產品的固有可靠性.即不能提高每個產品的壽命.
C．不能簡單地以篩選淘汰率的高低來評價篩選效果.淘汰率高.有可能是產品本身的設計、元件、工藝等方面存在嚴重缺陷. 但了有可能是篩選應力強度太高.淘汰率低.有可能產品缺陷少.但也有可能是篩選應力的強度和試驗時間不足造成的.
 技術參數(shù)

CK-290+LED測試系統(tǒng)
圖片僅供參考,實物以訂單為依據(jù). 		高精度微電腦無段式控制調溫系統(tǒng)

以PID＋Fuzzy 方式控制,使系統(tǒng)之加減熱量達到低能耗、節(jié)能、減碳效果.制熱電子化智慧控制,故能長期穩(wěn)定的使用。
 技術參數(shù)

CK-179+LED測試系統(tǒng)
圖片僅供參考,實物以訂單為依據(jù). 		溫度范圍：55℃～150℃ 。
點燈溫度范圍： 55℃~120℃。
升溫時間：20℃～150℃約50分鐘 (空載時)。
負載：HI POWER LED測試板60片(10顆/片)，每顆LED的輸入電源為0~1000mA，電壓為5V，發(fā)熱量600W;LO POWER LED測試板20片 (20顆/片)，每顆LED的輸入電源為0~200mA，電壓為5V，發(fā)熱量200W。
共80片LED測試板，負載材質：LED×30%，電路板×20%，銅×50%。
PS.可依客戶測試規(guī)范或需求訂制
產品特性

BIO
圖片僅供參考,實物以訂單為依據(jù). 		可放10組模組板，輸出總數(shù)400 channels。
每組模組板對應2組20channels輸出。
機箱型式：19"標準儀器箱，符合EIA RS-310-C 之規(guī)范。
機箱尺寸：483W*221.5H*460D mm，采5U高度設計，可直接裝于EIA 19"標準儀器架。
機箱材質：采鋁合金制造，質輕、美觀、耐用。
PS.可依客戶測試規(guī)范或需求訂制
試驗規(guī)范
GB/T2423.2-2001《電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫》
GB/T13543-92《數(shù)字通信設備環(huán)境試驗方法》
MIL-STD-883D 《微電子器件試驗方法和程序》
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》
MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗方法》
GJB150.3-86《軍用設備環(huán)境試驗方法 高溫試驗》
GJB548A-96 《微電子器件試驗方法和程序》
SJ/T 10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.1 高溫負荷試驗
SJ/T 10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.2 高溫貯存試驗