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技術(shù)文章
可靠性測試 : AEC-Q102測試認證混合氣體腐蝕試驗（FMG）LED燈具可靠性試驗方法（GB/T 33721-2017）元器件篩選氨氣試驗CAF測試阻燃等級循環(huán)腐蝕試驗（CCT）機械沖擊試驗高壓蒸煮試驗（PCT）高壓蒸煮試驗加...
Burn-in Burn-in is an electrical stress test that employs voltage and temperature to accelerate the electrical failure of a device. Burn-in essentially simulates the operati...
雙85恒溫恒濕可靠性環(huán)境試驗（THB）
LED燈具可靠性測試方案
振動試驗（VVF）
溫度循環(huán)/冷熱沖擊試驗（TC/TS）
BURN-IN高溫老化柜設(shè)備是用來移除早期失效的不合格產(chǎn)品配件的一種老化設(shè)備 武漢BURN-IN高溫老化柜、老化箱設(shè)備用途： 本試驗設(shè)備是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域的測試設(shè)備，用于測試和確定電工、電...
半導體芯片之車規(guī)芯片 一臺新能源汽車分為好幾個系統(tǒng)，MCU隸屬于車身控制及車載系統(tǒng)，是最重要的系統(tǒng)之一。 MCU芯片又分為5個等級：消費級，工業(yè)級，車規(guī)級，QJ，GJ。在這當中，車規(guī)級芯片是當前的風向標...
半導體的未來是否一片光明？ 受益于“5G+萬物互聯(lián)”概念的興起，以及新能源汽車的高速發(fā)展，芯片的需求全面提升；又因為疫情的沖擊和中美貿(mào)易的摩擦，芯片的供給受到了影響，所以國內(nèi)市場將會在這多因素下...
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