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美國(guó) inTEST 高低溫測(cè)試機(jī)可與愛德萬(wàn) advantest, 泰瑞達(dá) teradyne, 惠瑞捷 verigy 工程機(jī)聯(lián)用, 進(jìn)行半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試. inTEST 高低溫測(cè)試機(jī)可以快速提供需要的模擬環(huán)境溫度滿足半導(dǎo)體芯片的溫度沖擊和...
壓力傳感器 MENS 是由微加工技術(shù)制備, 特征結(jié)構(gòu)在微米尺度 1um~0.1mm 范圍，集成有微傳感器, 微致動(dòng)器, 微電子信號(hào)處理與控制電路等部件的微型系統(tǒng). 80%以上的 MENS 采用硅微工藝進(jìn)行制作, 并且需要在特定...
inTEST 熱流儀腔體濾波器模塊高低溫測(cè)試 腔體濾波器就是采用諧振腔體結(jié)構(gòu)的微波濾波器. 一個(gè)腔體能夠等效成電感并聯(lián)電容, 從而形成一個(gè)諧振級(jí), 實(shí)現(xiàn)微波濾波功能. 較之其他性質(zhì)的微波濾波器而言, 腔體濾波...
inTEST - Temptronic 高低溫循環(huán)測(cè)試機(jī)閃存溫度測(cè)試應(yīng)用： 閃存(Flash Memory)，是非揮發(fā)性內(nèi)存的一種，不需電力來維持?jǐn)?shù)據(jù)的儲(chǔ)存，可分為 NOR Flash 以及 NAND Flash 兩種，前者用于儲(chǔ)存程序代碼，后者...
inTEST ATS-710 應(yīng)用于 100G 光模塊高低溫測(cè)試
inTEST ATS-710 通訊模塊高低溫測(cè)試 在通訊模塊中,由于傳輸速率的不斷增加, 在模塊工作的時(shí)候, 很大程度會(huì)出現(xiàn)工作模塊溫度飆升的情況, 為了保障模塊的正常運(yùn)行, 需要進(jìn)行通訊模塊溫度可靠性測(cè)試, 傳統(tǒng)驗(yàn)...
inTEST Thermostream 高低溫測(cè)試機(jī)應(yīng)用于半導(dǎo)體元器件高低溫測(cè)試 半導(dǎo)體器件 semiconductor device, 是導(dǎo)電性介于良導(dǎo)電體與絕緣體之間, 利用半導(dǎo)體材料特殊電特性來完成特定功能的電子器件, 可用來產(chǎn)生,...
inTEST ECO-560 高低溫測(cè)試機(jī)成功應(yīng)用于研發(fā) 400G 光模塊可靠性測(cè)試.
美國(guó) inTEST 旗下 Sigma 高低溫試驗(yàn)箱, 提供標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)和客制化型號(hào)供選擇. Sigma 高低溫沖擊試驗(yàn)箱超過50年的溫度試驗(yàn)箱設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn), 提供各種尺寸形狀的高低溫腔體,測(cè)試溫度范圍 -185 至+500°C, 變溫速率快,...
美國(guó) inTEST ThermoStream 高低溫測(cè)試機(jī)廣泛應(yīng)用于照明級(jí)大功率LED器件,LED封裝的可靠性測(cè)試.
美國(guó) inTEST ECO-560 經(jīng)濟(jì)型高低溫沖擊測(cè)試機(jī)中國(guó)總代理! 溫度沖擊范圍: -60 °C 至 +150 °C, 適用于對(duì)各類元件,零件, 混合件, 模塊,子組件和 PCB 電路板進(jìn)行快速和準(zhǔn)確的溫度沖擊. 與其他熱流儀相比, 占...
美國(guó) inTEST ThermoStream 高低溫沖擊熱流儀可與德國(guó) AUTRONIC DMS 液晶顯示屏測(cè)量系統(tǒng)聯(lián)用進(jìn)行 LED 環(huán)境溫度測(cè)試. 每個(gè) DMS 系統(tǒng)都可以擴(kuò)展一個(gè)適當(dāng)?shù)睦錈嵯到y(tǒng), 以進(jìn)行 LED 光學(xué)顯示特性和一致性測(cè)試的溫...
美國(guó) inTEST 高低溫循環(huán)測(cè)試機(jī) ATS-545-M 應(yīng)用于 PCB 板、電子芯片高低溫測(cè)試。 PCB板、電子芯片在出廠前需要進(jìn)行環(huán)境測(cè)試，模擬PCB板在氣候環(huán)境下操作及儲(chǔ)存的適應(yīng)性，已確保其在極端環(huán)境下也可正常工作...
隨著國(guó)家對(duì)半導(dǎo)體行業(yè)愈加重視, 國(guó)內(nèi)各高校通過積極籌備半導(dǎo)體聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室等舉措來推動(dòng)集成電路的產(chǎn)業(yè)研究和人才教育的發(fā)展, 美國(guó) inTEST ThermoStream熱流儀提供清潔干燥的冷熱循環(huán)沖擊氣流, 可達(dá)到快速精...
inTEST 熱流儀觸摸屏控制芯片高低溫沖擊測(cè)試： 觸摸屏控制芯片又稱觸摸屏芯片, 觸控芯片, 屬于半導(dǎo)體芯片一種, 廣泛應(yīng)用于如消費(fèi)類電子, 家用電器, 車載觸摸屏, 移動(dòng)終端, 智能電網(wǎng), 物聯(lián)網(wǎng)等多個(gè)領(lǐng)域. 觸...
電源管理芯片由于多是在狹小空間內(nèi)工作, 散熱的條件不好, 大多是在高溫的環(huán)境中長(zhǎng)時(shí)間工作, 電源芯片經(jīng)常經(jīng)歷快速升溫的情況, 甚至經(jīng)歷在電壓不穩(wěn)時(shí)快速變溫的情況, 所以電源芯片在出廠時(shí)需要經(jīng)過測(cè)試芯片...
inTEST 熱流儀搭配 Keysight 進(jìn)行功率器件自動(dòng)化高低溫測(cè)試 美國(guó) inTEST 熱測(cè)產(chǎn)品搭配 Keysight 機(jī)臺(tái), 提供 IGBT, RF Device, MOSFET, Hi Power LED 等功率器件 -100℃ - 350℃ 自動(dòng)化熱測(cè)試解決方案. Ke...
inTEST 熱流儀車載芯片 / 車規(guī)級(jí)芯片高低溫沖擊測(cè)試 不同于傳統(tǒng)消費(fèi)電子產(chǎn)品, 車規(guī)芯片前期的開發(fā)及驗(yàn)證期可能長(zhǎng)達(dá)3年, 相關(guān)研發(fā)費(fèi)用和時(shí)間成本高昂, 從而需要更快地響應(yīng)不斷變化的車輛架構(gòu)和嚴(yán)苛的產(chǎn)品上...
inTEST 熱流儀微控制器 MCU 芯片高低溫測(cè)試： 微控制器 MCU 芯片廣泛應(yīng)用于消費(fèi)電子(手機(jī), 打印機(jī)),計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò),工業(yè)控制,醫(yī)療設(shè)備,汽車電子以及智慧家庭等領(lǐng)域. 其中,汽車是 MCU 芯片最大的應(yīng)用市場(chǎng),傳統(tǒng)...
inTEST ThermoStream 高低溫測(cè)試機(jī)光通信行業(yè)應(yīng)用: 光纖收發(fā)器 Transceiver 高低溫測(cè)試, SFP 光模塊高低溫測(cè)試
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