功率器件高低溫測試案例一:
美國 inTEST Thermal Plate HP289-PM 搭配 Keysight B1505A 或 B1506A, 完成室溫至 250℃ 溫度測試. 通用軟件, 操作簡單, 只需將待測器件放置在 Thermal Plate 上即可. 通過使用 inTEST 最大可能的減少長線纜導致的測試問題, 兼容接頭將 Keysight 分析儀與 inTEST 熱板連接在一起.
美國 inTEST HP289-PM 是一個溫控平臺, 可以與 Keysight B1505A 和 B1506A 功率器件分析儀聯(lián)用. 該平臺允許自動控制板溫度, 從外殼環(huán)境溫度到 250°C, 用于表征功率器件, 例如 IGBT 和 MOSFET.
主要特點：
1. 自動溫度循環(huán)
2. 實時數(shù)據(jù)記錄
3. 動態(tài) DUT 溫度控制
4. 本地和遠程操作
功率器件高低溫測試案例二:
inTEST ThermalStream 高低溫沖擊測試機搭配 B150XA 系統(tǒng), 提供 -50℃~250℃ 的溫度測試環(huán)境.
測試時, 只需將待測功率器件放置在高低溫測試機測試罩內(nèi)即可. 如果未連接測試腔, 則測試器件可能會因熱空氣或冷凝水而損壞. 連接到測試設備和 Thermostream 的熱防護罩解決了這個問題, 可進行準確. 可靠和可重復的溫度特性測試.
美國 inTEST ThermalStream 熱流儀搭配 Keysight B150XA 系統(tǒng)評估 -50°C 至+ 250°C 溫度范圍內(nèi)的功率器件特性, 是半導體器件制造商中比較通用的測試手段, ThermoStream 具有快速的熱循環(huán)和準確的溫度控制,是高功率器件可靠性測試和表征的理想選擇.
主要特點：
1. 自動溫度循環(huán)
2. 實時數(shù)據(jù)記錄
3. 動態(tài) (DUT) 溫度控制
4. 本地和遠程操作
5. 無霜測試環(huán)境
6. 節(jié)能模式
功率器件高低溫測試案例三:
某企業(yè)購入美國 ThermoStream ATS-710 高低溫沖擊測試機, 為 MOSFET \ MOS 管, 場效應管, TO 封裝等器件提供 -50 至 +150 °C 快速精準的外部溫度環(huán)境, 滿足測試器件性能的要求.
inTEST Thermal Plate 熱臺 (環(huán)境溫度至 +250°C) 和 ThermoStream (-50 至 +250°C) 可滿足高溫和極低溫測試的需求. 兩種溫度測試都具有溫度自動循環(huán), 數(shù)據(jù)記錄和遠程通信功能.