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> inTEST 高低溫沖擊熱流儀

inTEST 熱流儀微處理器芯片高低溫測試

在電子, 航空航天, 通訊實驗等行業(yè)中, 對于使用的芯片有著嚴格的要求, 使用的芯片在嚴苛環(huán)境中能否正常工作, 可靠性如何, 成為重要的關注點, 而傳統(tǒng)驗證方法由于溫度變化, 穩(wěn)定速度慢和無法提供快速變化的溫度環(huán)境, 很難滿足相應的測試需要, 美國 inTEST 高低溫測試機解決了傳統(tǒng)驗證方法缺陷問題, 提供快速高低溫沖擊能力.

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產(chǎn)品留言

    ECO-710 微處理器芯片測試解決方案

    在進行微處理器芯片測試中, 客戶要求測試溫度 -40 到 125 °C

    ECO-710 測試的溫度范圍 -80 至 +225°C, 輸出氣流量 4 至 18 scfm, 溫度精度 ±1℃, 該產(chǎn)品解決客戶的需求.

    美國 inTEST 高低溫測試機 ECO-710 搭配 delta design 測試機共同進行微處理器芯片測試, 有效提高了芯片測試的速度和準確性, 快速進行在電工作的電性能測試, 失效分析, 可靠性評估等.


    微處理器芯片高低溫測試方法

    1. 將待測微處理器芯片放置在玻璃罩中

    2. 操作員設置需要測試的溫度范圍

    3. 啟動 ThermoStream ECO-710, 利用空壓機將干燥潔凈的空氣通入制冷機進行低溫處理, 然后空氣經(jīng)由外部管路到達加熱頭進行升溫, 氣流通過熱流罩進入測試腔.

    玻璃罩中的溫度傳感器可實時監(jiān)測當前腔體內(nèi)溫度, 高低溫測試機 ECO-710 自帶過熱溫度保護系統(tǒng), 操作員也可根據(jù)實際需要設置高低溫限制點.

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