inTEST ThermoStream ATS-545 技術(shù)參數(shù)：
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型號(hào)
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溫度范圍 °C
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* 變溫速率
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輸出氣流量
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溫度
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溫度顯示
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溫度
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ATS-545
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-75 至 +
225(50 HZ)
-80 至 + 225(60 HZ)
不需要LN2或LCO2冷卻
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-55至 +125°C
約 10 S 或更少
+125至 -55°C
約 10 S 或更少
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4至18
scfm
1.9至8.5 l/s
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±1℃
通過(guò)美國(guó)NIST 校準(zhǔn)
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±0.1℃
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T或K型
熱電偶
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* 一般測(cè)試環(huán)境下; 變溫速率可調(diào)節(jié)
inTEST ThermoStream 高低溫沖擊測(cè)試機(jī)功能特點(diǎn)：
與友廠對(duì)比, inTEST ThermoStream 自動(dòng)復(fù)疊式制冷系統(tǒng) (auto cascade refrigeration) 保證低溫, 內(nèi)置 AC 交流壓縮機(jī), 冷凍機(jī) Chiller 特殊設(shè)計(jì), 制冷劑不含氟利昂, 無(wú)毒, 不易燃, 保護(hù)環(huán)境; ESD 防靜電保護(hù)設(shè)計(jì)
旋鈕式控制面板, 支持測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
過(guò)熱溫度保護(hù): 出廠設(shè)置溫度 +230°C
加熱模式下, 冷凍機(jī)可切換成待機(jī)模式, 以減少電力消耗
干燥氣流持續(xù)吹掃測(cè)試表面, 防止水氣凝結(jié)
inTEST 高低溫測(cè)試方法：提供兩種檢測(cè)模式 Air Mode 和 DUT Mode
通過(guò)熱流罩或測(cè)試腔將被測(cè) IC 與周邊環(huán)境隔離，然后對(duì) IC 循環(huán)噴射冷熱氣流，使IC 溫度短時(shí)間發(fā)生急劇變化，從而完成溫度循環(huán)和溫度沖擊的測(cè)試。
inTEST 高低溫沖擊測(cè)試機(jī) ATS-545-M 尺寸：
寬61x深72.4 x高 108 cm
重量 365 kg
手臂延展最大 160 cm
標(biāo)準(zhǔn)最高操作高度 130.3 cm;(可選188 cm)
標(biāo)準(zhǔn)最低操作高度 69.1 cm;(可選81.3 cm)
噪音 < 65 dBA
與傳統(tǒng)高低溫測(cè)試箱, 溫濕度測(cè)試箱對(duì)比, inTEST ThermoStream 高低溫測(cè)試機(jī)主要優(yōu)勢(shì)：
1. 變溫速率更快
2. 溫控精度：±1℃
3. 實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)待測(cè)元件真實(shí)溫度，可隨時(shí)調(diào)整沖擊氣流溫度
4. 針對(duì) PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個(gè)IC(模塊), 可單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件
5. 對(duì)測(cè)試機(jī)平臺(tái)load board上的IC進(jìn)行溫度循環(huán) / 沖擊; 傳統(tǒng)高低溫箱無(wú)法針對(duì)此類測(cè)試。
6. 對(duì)整塊集成電路板提供準(zhǔn)確且快速的環(huán)境溫度
inTEST 高低溫沖擊熱流儀應(yīng)用
車載芯片及器件, 電源芯片, 功率器件, 通信芯片, 光纖收發(fā)器等溫度沖擊測(cè)試.
美國(guó) inTEST ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設(shè)計(jì), 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃, 通過(guò) NIST 校準(zhǔn). 通過(guò) ISO 9001, CE, RoHS 認(rèn)證. inTEST 熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測(cè)試, 滿足芯片特性和故障分析的需求.