AEC-Q100認(rèn)證 汽車(chē)集成電路應(yīng)力測(cè)試

隨著汽車(chē)電子技術(shù)的進(jìn)步，今天的汽車(chē)?yán)锒加泻芏喾睆?fù)的數(shù)據(jù)管理控制系統(tǒng)，汽車(chē)元器件AEC-Q200，并透過(guò)許多各自獨(dú)立的電路，來(lái)傳遞每個(gè)模塊間所需要的訊號(hào)，汽車(chē)內(nèi)部的系統(tǒng)就好比計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)的「主從架構(gòu)」，在主體控制單元與每個(gè)周邊模塊中，車(chē)用電子零件分為三大類(lèi)別，包含集成電路、離散半導(dǎo)體、被動(dòng)組件三大類(lèi)別。

AEC-Q100類(lèi)別與測(cè)試：

說(shuō)明：AEC-Q100規(guī)范7大類(lèi)別共41項(xiàng)的測(cè)試

群組A-加速環(huán)境應(yīng)力測(cè)試：PC、THB、HAST、AC、UHST、TH、TC、PTC、HTSL（6）

群組B-加速生命周期模擬測(cè)試：HTOL、ELFR、EDR（3）

群組C-封裝組裝完整性測(cè)試：WBS、WBP、SD、PD、SBS、LI（6）

群組D-芯片制造可靠性測(cè)試：EM、TDDB、HCI、NBTI、SM（5）

群組E-電性驗(yàn)證測(cè)試：TEST、FG、HBM/MM、CDM、LU、ED、CHAR、GL、EMC、SC、SER（11）

群組F-缺陷篩選測(cè)試：PAT、SBA（2）

群組G-腔封裝完整性測(cè)試：MS、VFV、CA、GFL、DROP、LT、DS、IWV（8）

濕熱度試驗(yàn)條件整理：

THB(有偏壓濕熱，依據(jù)JESD22 A101)：85℃/85%R.H./1000h/bias

HAST(高加速應(yīng)力試驗(yàn)，依據(jù)JESD22 A110)：130℃/85%R.H./96h/bias、110℃/85%R.H./264h/bias

AC(高壓蒸煮，武漢AEC-Q200，依據(jù)JEDS22-A102，設(shè)備：PCT-S)：121℃/100R.H./96h

UHST(無(wú)偏壓的高加速應(yīng)力試驗(yàn)，依據(jù)JEDS22-A118，設(shè)備：HAST-S)：110℃/85%R.H./264h

TH(無(wú)偏壓濕熱，依據(jù)JEDS22-A101，設(shè)備：THS)：85℃/85%R.H./1000h

TC(溫度循環(huán)，AEC-Q200證書(shū)，www.oven.cc 依據(jù)JEDS22-A104，設(shè)備：TSK、TC)：

等級(jí)0：-50℃←→150℃/2000cycles

等級(jí)1：-50℃←→150℃/1000cycles

等級(jí)2：-50℃←→150℃/500cycles

等級(jí)3：-50℃←→125℃/500cycles

等級(jí)4：-10℃←→105℃/500cycles

PTC(功率溫度循環(huán)，依據(jù)JEDS22-A105，設(shè)備：TSK)：

等級(jí)0：-40℃←→150℃/1000cycles

等級(jí)1：-65℃←→125℃/1000cycles

等級(jí)2～4：-65℃←→105℃/500cycles

HTSL(高溫儲(chǔ)存壽命，JEDS22-A103，設(shè)備：OVEN)：

塑料封裝零件：

等級(jí)0：150℃/2000h

等級(jí)1：150℃/1000h

等級(jí)2～4：125℃/1000h or 150℃/5000h

陶瓷封裝零件：200℃/72h

HTOL(高溫工作壽命，JEDS22-A108，設(shè)備：OVEN)：

等級(jí)0：150℃/1000h

等級(jí)1：150℃/408h or 125℃/1000h

等級(jí)2：125℃/408h or 105℃/1000h

等級(jí)3：105℃/408h or 85℃/1000h

等級(jí)4：90℃/408h or 70℃/1000h